WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量?jī)x的斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測(cè)量，所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進(jìn)行評(píng)估。斷層掃描儀無(wú)損檢測(cè)技術(shù)例如裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗(yàn)或損壞檢查，如同測(cè)量評(píng)估、備用工程應(yīng)用或幾何比較一樣。
X射線工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量?jī)x將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測(cè)量，可選配第二個(gè)Z軸，配置其他傳感器（光學(xué)、探針、光纖、激光等）。Werth公司的復(fù)合式傳感器技術(shù)，進(jìn)一步保證CT測(cè)量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
斷層掃描測(cè)量?jī)x選用廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件，界面友好，操作簡(jiǎn)單。可使用擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jìn)行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對(duì)。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測(cè)量、*評(píng)估、逆向工程、質(zhì)量控制等。
斷層掃描測(cè)量?jī)x的數(shù)據(jù)特征：
高精密機(jī)械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng)，確保實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量。
無(wú)論從設(shè)計(jì)還是結(jié)構(gòu)，測(cè)量機(jī)*并超出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)。
基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù)，測(cè)量速度更快。
Werth公司技術(shù)的X射線傳感器獨(dú)立校準(zhǔn)系統(tǒng)。
柵格斷層掃描技術(shù)：
精密測(cè)量微小部件；
掃描更大尺寸工件，提高分辨率；
擴(kuò)展測(cè)量范圍。
測(cè)量軟件可快速3D重構(gòu)，也可進(jìn)行2D測(cè)量。
測(cè)量工件內(nèi)部尺寸的同時(shí)，也可實(shí)現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析。
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